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FIB專用預傾角樣品臺(預傾臺)
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荷蘭M2N供應的EM Tec系列SEM樣品臺，包括多種使您更容易和更快地將樣品直接裝載到SEM中的樣品臺。樣品通過在鉗口間夾緊或用螺釘固定來裝載。一旦樣品被正確固定，樣品不會松動漂移，這增加了成像和分析的空間分辨率。采用該系列樣品臺，也不會出現(xiàn)氣體釋放或污染問題。所有樣品臺既可以直接使用，也可以加裝適配器與掃描電鏡載物臺一起使用，幾乎可以與任何標準的掃描電鏡完美兼容。此外，還供應臺式掃描電鏡的樣品臺。
SEM樣品臺種類繁多,限于篇幅，本文僅介紹其中FIB預傾角樣品臺（FIB pre-tilt stub holders）。
FIB 預傾角樣品臺
荷蘭M2N供應的FIB 預傾角樣品臺專用于 FIB/SEM 雙束系統(tǒng)，通過固定預傾角使樣品表面與聚焦離子束（FIB）柱體垂直，從而實現(xiàn)垂直于樣品表面的直線離子束銑削。該設計利用預傾角補償電子束柱與離子束柱之間的夾角，使用時無需傾斜樣品臺即可實現(xiàn)最佳銑削幾何條件。
目前提供以下三種型號：
① P38 固定38°傾角樣品臺，適配FEI釘形樣品座。該產品可為賽默飛（TFS/FEI）雙束FIB/SEM系統(tǒng)的樣品提供38°預傾角，不含銷釘尺寸為?12.7×17mm。
② P36 固定36°傾角樣品臺，適配蔡司釘形樣品座。該產品可為蔡司CrossBeam FIB/SEM系統(tǒng)的樣品提供36°預傾角，不含銷釘尺寸為?12.7×17mm。
③ P35 固定35°傾角樣品臺，適配標準及泰思肯釘形樣品座。該產品可為泰思肯FIBxSEM系統(tǒng)的樣品提供35°預傾角，不含銷釘尺寸為?12.7×17mm。
技術特點：
采用固定角度設計，確保樣品定位重復性
直接兼容各廠商標準樣品臺接口
消除樣品臺傾斜引起的坐標系誤差
優(yōu)化銑削幾何條件，提升截面制備質量
應用場景：
透射電鏡樣品制備
集成電路截面分析
納米結構三維重構
定點失效分析
參數(shù)規(guī)格表：
詳細訂購信息:
具有鋼結構工程專業(yè)承包二級資質、建筑工程施工總承包貳級資質；公司主營產品包括重鋼、輕鋼、網架及檁條、彩鋼板等鋼結構產品；近年來，公司承接了國內外大型結構件、橋梁、車庫、標準化廠房等具有較大影響力的一系列項目；產品遠銷白俄羅斯、贊比亞、印尼等國家，得到了一致好評。
關鍵詞： FIB專用預傾角樣品臺(預傾臺)
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